熱工藝的時間與溫度的關(guān)系由其溫度曲線圖形象化的顯示出來。任何一家生產(chǎn)者的任務(wù)是確保這個溫度曲線能符合相關(guān)的工藝規(guī)格。

  KIC使用工藝窗口指數(shù)PWI的概念，以一個單一數(shù)字來測定這個關(guān)系。 熱工藝制程本身具有內(nèi)在的復(fù)雜性，也因此要確定一個熱工藝設(shè)置是否達標就變成不容易的一件事。 而使用異常簡練卻強有力：

• 高于100的PWI值代表其溫度曲線超標
• 低于100的PWI值代表溫度曲線符合工藝規(guī)格
• PWI值越低，代表其制程越接近工藝規(guī)格的中心

一個單一的PWI值就能夠讓您知悉一切， 并且具有如下優(yōu)點：

• 客觀性
• 超越語言上的障礙
• 獨立于設(shè)備和操作人員的因素
• 即時的分析結(jié)果
• 為工藝優(yōu)化過程打下基礎(chǔ)

  讓我們闡述上述的最后一個優(yōu)點。 由于現(xiàn)今電子行業(yè)日趨復(fù)雜，工廠已不能單只是靠其制程設(shè)置能符合工藝范圍來應(yīng)付大批量的生產(chǎn)需求。工藝的設(shè)置必須能使其十分靠近工藝窗口的中心點，以便其能夠容納制造過程中出現(xiàn)的內(nèi)在自然漂移。PWI測定每個溫度曲線接近其工藝范圍中心的程度。PWI也因此能判定不同的溫度曲線的優(yōu)劣， 而為其排列出等級。無論您有多少個不同的工藝設(shè)置，PWI都能從中找出最佳設(shè)置。

  當KIC的精確的工藝模擬軟件結(jié)合了現(xiàn)代計算機的速度，您就能擁有一個強而有力的制程能力來瞬間獲取一個處于工藝范圍中心的設(shè)置！

計算PWI

  一個溫度曲線里的全部參數(shù)都能各自生成一個PWI值，其中最差的那一個（最大數(shù)）既是此溫度曲線的PWI。例如：如果運行一個具有三個熱電偶的溫度曲線，且每個熱電偶內(nèi)含四個參數(shù)，那么此溫度曲線將擁有12個參數(shù)數(shù)據(jù)。從所有參數(shù)里出現(xiàn)的最差的PWI值將是該溫度曲線的PWI（以最大的百分比來表示）

PWI的計算公式涵蓋了所有熱電偶的每一個參數(shù)。PWI公式計算如下:

i=1 到 N (熱電偶的數(shù)量)
j=1 到M (每個熱電偶的參數(shù)的數(shù)量)
measured_value[i,j]=第[i,j]th 個參數(shù)的值
average_limits[i,j]=第 [i,j]th 個參數(shù)的上限和下限值的平均值
range[i,j]=第 [i,j]th 個參數(shù)數(shù)據(jù)的上限值減下限值